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文献名称:硅表面有机单分子膜的新表征方法──界面微分电容测量法
    前言:提出一种表征硅表面有机单分子膜的新方法界面微分电容测量法 .通过对新制备的 H-Si( 1 1 1 )表面和一系列烯烃分子修饰的硅表面 /电解液界面的微分电容的研究 ,建立了硅表面有机膜结构和性质与界面电容之间的联系 .实践证明这是一个简便、快速和有效的实验技术 ,为硅表面化学修饰与功能化研究提供了一个非常有力的工具 .
    We suggest a new technique to characterize the organic monolayers on silicon surfacesmeasurement of the differential capacity-electrode potential curve. By means of the investigation of differential capacity of a series of alkenes-modified silicon surfaces and H-Si(111)/electrolyte interfaces, we have established the relationship between the structure of the organic monolayers on silicon surfaces and their interface differential capacity. It has been confirmed to be a simple, quick, and effective experiment...
文献名称 硅表面有机单分子膜的新表征方法──界面微分电容测量法
Article Name
英文(英语)翻译
A New Technique of the Characterization of Monolayers on Silicon Surfaces──Measure of the Differential Capacity of Interfaces;
作者 孙乔玉; Catherine Henry de Villeneuve; 力虎林; Philippe A llongue;
Author SUN Qiao-Yu\+\{1;2\};Henry de Villeneuve Catherine\+\{2\};LI Hu-Lin\+\{1 *\};Allongue Philippe\+\{2 *\} (1. College of Chemistry and Chemical Engineering;Lanzhou University;Lanzhou 730000;China;2. Laboratoire de Physique des Liquides et Electrochimie;CNRS-UPR 15 Conventionnée avec l′Université P & M Curie;4 place Jussieu;Tour 22;75005 Paris);
作者单位
Author Agencies
兰州大学化学化工学院; Laboratoire de Physique des Liquides et Electrochimie; CNRS-UPR 15 Conventionnée avec l′Université P & M Curie; 4 place Jussieu; Tour 22; 75005 Paris; 75005 Paris 兰州;
文献出处
Article From
中国科学院上海冶金研究所; 材料物理与化学(专业) 博士论文 2000年度
关键词 硅表面单分子膜; 微分电容; 表征方法;
Keywords Monolayers on silicon surfaces;Differential capacity;Characteristic technique;
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